HOME > Presentation > Detail局所ポテンシャル障壁高さの距離一定条件での電圧依存性の測定(Bias Voltage Dependence of Local Potential Barrier Height at Constant Tip-Sample Separation)柳生 進二郎, 吉武 道子. 第3回表面エレクトロニクス研究会. August 01, 2002-August 02, 2002.NIMS author(s)YAGYU, ShinjiroYOSHITAKE, MichikoFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 04:09:25 +0900 Updated at: 2017-07-10 18:27:25 +0900