HOME > 口頭発表 > 書誌詳細ナノテスターが拓く未来－ナノテクノロジーを支える先端計測技術－久保 理, 新ヶ谷 義隆, 樋口 誠司, 中山 知信, 青野 正和. TXテクノロジー・ショーケース ツクバ・イン・アキバ2005. 2005年09月21日-2005年09月22日.NIMS著者新ヶ谷 義隆青野 正和Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:19:33 +0900 更新時刻: 2018-05-21 19:42:03 +0900
