Bi 原子細線をドーパント源とするSi 結晶中のBiδドーピング法： EXAFSによるドーピング機構解明
(Delta doping of Bi in Si crystal with use of Bi nanoline as a dopant source: Elucidation of doping mechanism by using EXAFS)
応用物理学会2014秋季講演会. 2014.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-01-08 03:46:38 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:01:15 +0900