HOME > 口頭発表 > 書誌詳細極限物理場環境における高分解能STM計測技術(High Resolution STM Technology under Extreme Fields)藤田 大介. 日本顕微鏡学会SPM分科会H16年度研究会. 2004. 招待講演NIMS著者藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:38:10 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:40:23 +0900