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NIMS一般公開2024

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(Development of a high energy-resolution EDS using Superconductor Transition-Edge Sensor Detector for a TEM)

原 徹, 前畑京介, 満田和久, 田中啓一.
The 1st. East-Asia Microscopy Conference. 2013年10月15日-2013年10月18日. 招待講演

NIMS著者


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    作成時刻: 2017-01-08 04:05:13 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:44:45 +0900

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