Ag/Ta2O5/Pt素子におけるフォーミングプロセスの活性化障壁測定
(Activation Barrier Measurement of the Forming Process for an Ag/Ta2O5/Pt Device)
第78回応用物理学会 秋季学術講演会. 2017年09月05日-2017年09月08日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-07-11 22:39:35 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:10:47 +0900