SAMURAI - NIMS Researchers Database

NIMS Awardシンポジウム2026

HOME > 口頭発表 > 書誌詳細

最表面に ZrO2層を有する強誘電性 HfxZr1-xO2薄膜の結晶相の深さ方向分布の理解
(Understanding Depth Profile of Crystal Phases in Ferroelectric HfxZr1-xO2 Thin Films Capped with Topmost ZrO2 Layer)

髙久 理名, 女屋 崇, 田村 敦史, 喜多 浩之.
2026年 第73回 応用物理学会 春季学術講演会. 2026年03月15日-2026年03月18日.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2026-07-31 03:07:56 +0900 更新時刻: 2026-07-31 03:07:56 +0900

    ▲ページトップへ移動