HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Operando Nanomechanical Measurements of Silicon Thin Film Electrode During Electrochemical Lithiation and Delithiation by Bimodal Atomic Force MicroscopyRidwan Pratama Putra, MATSUSHITA, Kyosuke, OHNISHI, Tsuyoshi, MASUDA, Takuya. The 90th ECSJ Annual Meeting 電気化学会第90回大会. 2023年03月27日-2023年03月29日.NIMS著者リドワン プラタマ プトラ増田 卓也Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2023-09-06 03:59:58 +0900 更新時刻: 2023-09-06 03:59:58 +0900