HOME > Presentation > DetailSPring-8 放射光X線ナノCTによる電子デバイスの信頼性解析~MLCCの電極構造形成プロセス~大熊 学. 2020年度第 1 回バルクセラミックスの信頼性に関するワークショップ. 2021. InvitedNIMS author(s)OKUMA, GakuFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2021-12-23 15:44:58 +0900Updated at: 2024-03-05 12:21:49 +0900