0.1-10 MeVのC60イオン照射によりSi中に形成されるイオントラック長の簡単な見積方法
(An estimation method of mean ion track length generated with 0.1-10 MeV C60 ions in Si)
日本物理学会 2022年秋季大会
https://www.jps.or.jp/activities/meetings/autumn/autumn_index.php. 2022年09月12日-2022年09月15日.
NIMS著者
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作成時刻: 2022-09-23 03:19:42 +0900 更新時刻: 2022-09-23 03:19:42 +0900