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Si基板上に直接成長させたGeのRBS測定
(RBS measurement of Ge directly grown on Si substrate)

河野 健一郎, 朴成鳳, 石川靖彦, 和田一実.
2011年秋期第72回応用物理学会学術講演会. 2011.

NIMS著者


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    作成時刻: 2017-01-08 04:43:27 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:09:16 +0900

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