HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Si基板上に直接成長させたGeのRBS測定(RBS measurement of Ge directly grown on Si substrate)河野 健一郎, 朴成鳳, 石川靖彦, 和田一実. 2011年秋期第72回応用物理学会学術講演会. 2011.NIMS著者河野 健一郎Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:43:27 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:09:16 +0900