低温走査トンネル顕微鏡によるSi(100)表面構造の観察
(Observation of Si(100) surface by low temperature STM)
平成18年度 ＮＩＭＳナノ計測センター研究成果発表会. 2006-10-27.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-02-14 11:33:34 +0900 更新時刻: 2017-07-10 19:46:41 +0900