HOME > 口頭発表 > 書誌詳細低温走査トンネル顕微鏡によるSi(100)表面構造の観察(Observation of Si(100) surface by low temperature STM)鷺坂 恵介, 藤田 大介. 平成18年度 NIMSナノ計測センター研究成果発表会. 2006.NIMS著者鷺坂 恵介藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:33:34 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:46:41 +0900