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NIMS一般公開2024

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Development of an Analytical-STEM applying a superconductor detector for x-ray nanoanalysis

原 徹, 田中啓一, 満田和久, 前畑京介, 山中良浩, 日高睦夫, 中村邦康.
The 3rd East-Asia Microscopy Conference(EAMC3). 2017年11月07日-2017年11月10日.

NIMS著者


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    作成時刻: 2017-08-26 22:32:40 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:12:03 +0900

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