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NIMS Awardシンポジウム2026

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Comparison of electronic properties between O and H-terminated diamond MOSFETs

Koide Yasuo, LIU, Jiangwei.
The 67th Electronic Materials Conference (EMC) 2025. 2025年06月25日-2025年06月27日.

NIMS著者


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    作成時刻: 2025-09-12 03:12:41 +0900 更新時刻: 2025-09-12 03:12:41 +0900

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