HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Comparison of electronic properties between O and H-terminated diamond MOSFETsKoide Yasuo, LIU, Jiangwei. The 67th Electronic Materials Conference (EMC) 2025. 2025年06月25日-2025年06月27日.NIMS著者劉 江偉Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2025-09-12 03:12:41 +0900 更新時刻: 2025-09-12 03:12:41 +0900