HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Ge/SiおよびSi/Geコアシェルナノワイヤ中のホールガス蓄積の制御(Control of hole gas accumulation in selectively doped Ge/Si and Si/Ge core-shell nanowires)張 小龍, ジェバスワン ウイパコーン, 武井 俊朗, 深田 直樹. Nanowire Week 2018. 2018.NIMS著者ジェバスワン ウイパコーン深田 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-07-14 16:06:33 +0900更新時刻: 2018-07-14 16:06:33 +0900