HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Influence of carrier injection on the Si(100) surface structure studied by low temperature scanning tunneling microscopySAGISAKA, Keisuke, FUJITA, Daisuke. European Conference on Surface Science 23. 2005年09月04日-2005年09月09日.NIMS著者鷺坂 恵介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-25 01:00:25 +0900 更新時刻: 2017-07-10 19:24:24 +0900