SIMS study of light element Distribution in ZnO thin films
(酸化亜鉛薄膜中の軽元素分布に関する２次イオン質量分析法を用いた研究)
13th international conference on secondary ion mass spectrometry. 2001年11月11日-2001年11月16日.
NIMS著者
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作成時刻: 2022-09-05 11:09:44 +0900 更新時刻: 2022-09-05 11:09:44 +0900