アクティブ操作と融合した走査トンネル顕微鏡ナノ計測技術の展開
(Recent Development od Active Nano-Characterization Technology Using Scanning Tunneling Microscopy)
日本学術振興会第151委員会「未踏ナノデバイステクノロジー」. 2004. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 03:59:36 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:40:15 +0900