X線散乱測定によるアモルファスBiOx, Bi2O3-GeO2の構造解析
(The structure of amorphous BiOx and Bi2O3-GeO2 revealed by total scattering measurements)
NIMS conference 2015. 2015年07月14日-2015年07月16日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 05:11:18 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:10:30 +0900