(Residual Order within Thermally Grown SiO2 on Si(113) Substrate)
2004 International Workshop on Dielectric Thin Films for Future . 2004年05月26日-2004年05月28日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-22 23:01:54 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:01:16 +0900