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著者名久保 理, 新ヶ谷 義隆, 中山 知信, 青野 正和.
タイトル2探針STMによる電気測定:単一ナノワイヤの局所構造変化と電気抵抗変化
(Electrical measurements by double-probe STM: Local modulation of structure and resistance in a single nanowire)
会議名第66回応用物理学会学術講演会
発表年2005
言語Japanese
外部での文献参照

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