HOME > Presentation > DetailTOF-SIMSによるSi/Al界面における界面融解観測(Observation of interface melting in the Si/Al interface by TOF-SIMS)北澤 英明, 渡邉 騎通, Jakub Szabelewsk, 間宮 広明, 藤田 大介. MI・計測 合同シンポジウム. 2018-03-08.NIMS author(s)KITAZAWA, HideakiMAMIYA, HiroakiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2018-09-28 19:34:56 +0900 Updated at: 2018-09-28 19:34:56 +0900