HOME > 口頭発表 > 書誌詳細TOF-SIMSによるSi/Al界面における界面融解観測(Observation of interface melting in the Si/Al interface by TOF-SIMS)北澤 英明, 渡邉 騎通, Jakub Szabelewsk, 間宮 広明, 藤田 大介. MI・計測 合同シンポジウム. 2018.NIMS著者北澤 英明間宮 広明藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-09-28 19:34:56 +0900更新時刻: 2018-09-28 19:34:56 +0900