Distinguishing the Dependence of the Apparent Local Barrier Height on Measurement Conditions
(局所ポテンシャル障壁高さの測定条件依存性の判別)
16th International Vacuum Microelectronics Conference. 2003年07月07日-2003年07月11日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-02-18 03:17:17 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:42:10 +0900