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多機能TEM試料ホルダーの開発と電場評価への応用
(Development of Multifunctional TEM Specimen Holders and Their Applicat)

進藤大輔, 川本 直幸, 村上恭和.
17th International Microscopy Congress (IMC17). 2010年09月19日-2010年09月24日.

NIMS著者


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    作成時刻: 2017-02-14 11:04:40 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:58:59 +0900

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