HOME > 口頭発表 > 書誌詳細多機能TEM試料ホルダーの開発と電場評価への応用(Development of Multifunctional TEM Specimen Holders and Their Applicat)進藤大輔, 川本 直幸, 村上恭和. 17th International Microscopy Congress (IMC17). 2010年09月19日-2010年09月24日.NIMS著者川本 直幸Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:04:40 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:58:59 +0900