HOME > 口頭発表 > 書誌詳細電子線ホログラフィーによるGaN系材料のへテロナノ構造の電界測定竹口 雅樹, 奥野 華子, 古屋 一夫, 色川 芳宏. 日本顕微鏡学会第63回学術講演会. 2007. 招待講演NIMS著者竹口 雅樹色川 芳宏Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:17:59 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:41:29 +0900