HOME > Presentation > Detail電子線ホログラフィーによるGaN系材料のへテロナノ構造の電界測定竹口 雅樹, 奥野 華子, 古屋 一夫, 色川 芳宏. 日本顕微鏡学会第63回学術講演会. May 20, 2007-May 22, 2007. InvitedNIMS author(s)TAKEGUCHI, MasakiIROKAWA, YoshihiroFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 03:17:59 +0900 Updated at: 2024-03-05 11:41:29 +0900