HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Photoluminescence characterization of ZnO low dimensional structures prepared by thermal evaporation)王 玉光, 大橋 直樹, 和田 芳樹, 羽田 肇. The 23rd International Conference on Defects in Semiconductors, . 2005.NIMS著者大橋 直樹和田 芳樹羽田 肇Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-25 01:00:36 +0900 更新時刻 :2017-07-10 19:24:36 +0900