SiおよびGeナノワイヤ中への不純物ドーピングと評価
(Doping and characterization of impurity atoms in Si and Ge nanowires)
Advancement of Group IV Nanostructures Nanophotonics and Nanoele. 2014. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 03:42:57 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:45:21 +0900