低温STMによるSi(00)表面の電子状態計測と構造制御
(Electronic structure and phase manipulation on the Si(001) surface, -A study of LT-STM )
第1回NIMSナノ計測センターシンポジウム. 2007. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:04:23 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:41:24 +0900