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著者名渡辺 健太郎, 馬場 正和, 野久尾 毅, 関口 隆史, 山根 久典, 末益 崇.
タイトルProbe-EBIC法によるSi(111)基板上BaSi2薄膜の接合・結晶粒評価
(BaSi2 thin film grown on Si(111) substrate studied by probe-EBIC technique)
会議名日本顕微鏡学会 第69回学術講演会
発表年2013
言語Japanese
外部での文献参照

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