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実験室硬X線光電子回折法によるInN表面近傍の化学状態選別構造
(Chemical-state-discriminated hard X-ray photoelectron diffraction study for polar InN)

山下 良之, ヤン アンリ, 小林 啓介.
第54回表面分析研究会. 2020. 招待講演

NIMS著者


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    作成時刻 :2020-12-18 03:00:18 +0900 更新時刻 :2024-03-05 12:21:33 +0900

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