オペランドX線顕微分光によるグラフェントランジスタの界面電荷分析
(Interface dipole layer observation in graphene field effect transistors by synchrotron soft X-ray operando spectromicroscopy)
2020年第81回応用物理学会秋季学術講演会. 2020年09月08日-2020年09月11日.
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作成時刻: 2022-01-12 03:00:39 +0900更新時刻: 2022-01-12 03:00:39 +0900