SPring-8 BL15XU における高エネルギーX線光電子顕微鏡を使ったマイクロXAFS解析
(micro XAFS analysis with PEEM by using high energy X-ray at SPring-8 BL15XU)
春季第51回応用物理学会. 2004.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 03:32:05 +0900更新時刻: 2017-07-10 18:59:20 +0900