Probing surface band bending of polar GaN by hard X-ray photoemission combined with X-ray total reflection
AVS 65th International Symposium. 2018年10月21日-2018年10月26日.
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作成時刻: 2018-06-05 14:20:28 +0900 更新時刻: 2018-06-05 14:20:28 +0900