極性制御したZnO薄膜を用いたZnO/Si 接合の特性評価
(Characterization of ZnO/Si Junctions using Polarity-Controlled ZnO Thin Films)
第78回 応用物理学会 秋季学術講演会. 2017年09月05日-2017年09月08日.
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作成時刻: 2017-07-20 22:31:26 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:10:26 +0900