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極性制御したZnO薄膜を用いたZnO/Si 接合の特性評価
(Characterization of ZnO/Si Junctions using Polarity-Controlled ZnO Thin Films)

大澤 健男, 山形 栄人, 石垣 隆正, 大橋 直樹.
第78回 応用物理学会 秋季学術講演会. 2017年09月05日-2017年09月08日.

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    作成時刻: 2017-07-20 22:31:26 +0900 更新時刻: 2018-06-05 14:10:26 +0900

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