HOME > Presentation > Detail極性制御したZnO薄膜を用いたZnO/Si 接合の特性評価(Characterization of ZnO/Si Junctions using Polarity-Controlled ZnO Thin Films)大澤 健男, 山形 栄人, 石垣 隆正, 大橋 直樹. 第78回 応用物理学会 秋季学術講演会. September 05, 2017-September 08, 2017.NIMS author(s)OHSAWA, TakeoOHASHI, NaokiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-07-20 22:31:26 +0900 Updated at: 2018-06-05 14:10:26 +0900