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著者名SEKIGUCHI, Takashi, WANG, Yan, DIERRE, Benjamin, YAO, Yongzhao, YOKOYAMA, Masaaki, NAKAGAWA, Ken, Kakinuma Shigeru.
タイトルStandarization of GaN wafer charactrerization method by using cathodoluminescence
会議名BIAMS 2008
発表年2008
言語English
外部での文献参照

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