HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Standarization of GaN wafer charactrerization method by using cathodoluminescence関口 隆史, 王 彦, ディエール バンジャマン, 姚 永昭, 横山 政昭, 中川 健, 柿沼繁. BIAMS 2008. 2008.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:21:30 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:14:17 +0900
