導電性AFMを利用した単層WSe2の点欠陥識別
(Identifying point defects in monolayer WSe2 using conductive AFM)
第86回日本応用物理学会秋季学術講演会. 2025年09月07日-2025年09月10日.
NIMS著者
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作成時刻: 2025-09-23 03:12:51 +0900 更新時刻: 2025-09-23 03:12:51 +0900