HOME > 口頭発表 > 書誌詳細HASTにおける誘電体への水素の侵入(Hydrogen Infiltration into Dielectrics Under Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test)齊藤 義人, 大國 聡巳, 中村 友幸, 灘 研一, 佐野 晴信, 橋口 未奈子, 坂口 勲. 第38回強誘電体会議. 2021年06月01日-2021年06月04日.NIMS著者坂口 勲Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2021-12-11 03:39:39 +0900 更新時刻: 2021-12-11 03:39:39 +0900