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1keV以下の特性線取得効率向上に向けたTESシステムの開発
(Development of TES system increasing the detection efficiency for X-ray under 1 keV)

田中啓一, 永田篤士, 中山哲, 茅根一夫, 前畑京介, 満田和久, 原 徹.
第62回応用物理学会春季学術講演会. 2015年03月11日-2015年03月14日.

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    作成時刻: 2017-01-08 04:14:41 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:06:37 +0900

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