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Synchrotron Soft X-ray Scanning Photoelectron Microscopy Analysis of Gate-controlled Photo-oxidation in Graphene Field-effect Transistors

NAGAMURA, Naoka, Shun Konno, Morihiro Matsumoto, Wenxiong Zhang, Masato Kotsugi, Masaharu Oshima, Koji Horiba, Ryo Nouchi.
MRM2023/IUMRS-ICA2023 Grand Meeting. 2023年12月11日-2023年12月16日.

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    作成時刻: 2024-08-23 03:14:19 +0900更新時刻: 2024-08-23 03:14:19 +0900

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