HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Preparation of High-Quality TEM Specimens for Some Metals and Alloys via a Novel Integration of Chemical-Mechanical Polishing (CMP) with Wedge Polishing郭 行健, 長谷川 明, 三石 和貴, 古屋 一夫. 平成19年度 NIMSナノ計測センター研究成果発表会. 2007-10-26.NIMS著者三石 和貴Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:01:11 +0900 更新時刻: 2017-07-10 20:04:39 +0900