HOME > 口頭発表 > 書誌詳細低加速イオンミリングによる超薄試料の作成(Ultra thin specimen fabricated by low voltage ion milling)三留 正則. 日本顕微鏡学会第67回学術講演会. 2011.NIMS著者三留 正則Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:20:26 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:02:02 +0900