HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Accurate Determination of Lattice Constant Deviation at Nanoscale by Diffraction Mappingベカレビッチ ラマン, 三石 和貴, 大西 剛, 間野 高明, 上杉 文彦, 竹口 雅樹. 19th International Microscopy Congress. 2018.NIMS著者三石 和貴大西 剛間野 高明上杉 文彦竹口 雅樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-08-25 16:18:26 +0900更新時刻: 2018-08-25 16:18:26 +0900
