HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Accurate Determination of Lattice Constant Deviation at Nanoscale by Diffraction Mappingベカレビッチ ラマン, 三石 和貴, 大西 剛, 間野 高明, 上杉 文彦, 竹口 雅樹. 19th International Microscopy Congress. 2018年09月09日-2018年09月14日.NIMS著者三石 和貴大西 剛間野 高明上杉 文彦竹口 雅樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-08-25 16:18:26 +0900更新時刻: 2018-08-25 16:18:26 +0900