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(Investigation of Electronic Properties for V0.99W0.01O2 Thin Films Using Hard X-ray Photoemission Spectroscopy)

高見英史, 神吉輝夫, 上田 茂典, 小林 啓介, Nam-Goo Cha, 田中秀和.
International Conference on Core Research and Enegineering Scien. 2010年05月30日-2010年06月04日.

NIMS著者


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    作成時刻: 2017-01-08 03:34:41 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:03:42 +0900

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