(Investigation of Electronic Properties for V0.99W0.01O2 Thin Films Using Hard X-ray Photoemission Spectroscopy)
International Conference on Core Research and Enegineering Scien. 2010年05月30日-2010年06月04日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 03:34:41 +0900 更新時刻: 2017-07-10 21:03:42 +0900