HOME > Presentation > Detailイオンビーム照射による酸化物半導体ガスセンサの表面改質鈴木 拓, 中村穂, 大橋英幸. ナノテクノロジープラットフォーム成果利用発表会. September 03, 2020-October 04, 2020.NIMS author(s)SUZUKI, TakuFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2021-09-01 03:00:19 +0900Updated at: 2021-09-01 03:00:19 +0900