HOME > 口頭発表 > 書誌詳細エポキシ樹脂の電子線損傷機構(Fast electron damage mechanism of epoxy resin)吉川 純, 新居あおい, 坂庭慶昭, 今 直誓, 坂巻万里奈, 大橋東洋, 二田伸康, 原野 幸治, 木本 浩司. 日本顕微鏡学会第80回学術講演会. 2024年06月03日-2024年06月05日.NIMS著者吉川 純原野 幸治木本 浩司Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2024-06-07 03:12:41 +0900更新時刻: 2024-06-07 03:12:41 +0900