SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 書誌詳細

Influences of Annealing Conditions on Flatband Voltage Properties Using Continuously Workfunction-Tuned Metal Electrodes
(金属/high-k絶縁膜キャパシタのフラットバンド電圧特性に与える仕事関数変調及び熱処理の影響)

大毛利健治, PARHAT, AHMET, WATANABE, Heiji, 赤坂泰志, SHIRAISHI, Kenji, M. L. Green, YAMABE, Kikuo, YOSHITAKE, Michiko, K.-S. Chang, YAMADA, Keisaku, CHIKYO, Toyohiro.
International Workshop on Nano CMOS (IWNC). 2006. 招待講演

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2019-03-04 09:36:03 +0900更新時刻: 2024-03-05 12:20:54 +0900

    ▲ページトップへ移動