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NIMS Award Symposium 2026

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めっき材料純度がCu膜の構造、電気的性質に及ぼす影響
(Effect of the purity of the Cu plate on the structure and electrical property)

渋谷正太, Khoo Khyou Pin, 田代優, 大貫仁, 長南安紀, 石川 信博, 飛田俊実, 門田裕行.
日本金属学会2008年秋季(第143回)大会. September 23, 2008-September 25, 2008.

NIMS author(s)


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    Created at: 2017-02-14 11:20:58 +0900 Updated at: 2017-07-10 20:23:30 +0900

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