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Reliability analysis of electronic device by using synchrotron X-ray nano-CT : Microstructural evolution of electrodes of MLCC

大熊 学, 齋藤 直哉, 水野 高太郎, 若井 史博.
The 12th International Conference on the Science and Technology for Advanced Ceramics (STAC-12). 2021.

NIMS著者


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    作成時刻 :2022-01-05 03:27:03 +0900 更新時刻 :2022-01-05 03:27:03 +0900

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