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(Experimental verification of the surface termination in the topological insulator TlBiSe2 with scanning tunneling microscopy and photoelectron spectroscopy)

K. Kuroda, M. Ye, E. F. Schwier, K. Shirai, M. Nakatake, 上田 茂典, K. Miyamoto, T. Okuda, H. Namatame, M. Taniguchi, Y. Ueda, A. Kimura.
New Trends in Topological Insulators (NTTI) 2014. 2014年07月07日-2014年07月10日.

NIMS著者


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    作成時刻: 2017-02-26 20:51:30 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:52:56 +0900

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